三氧化钨薄膜在电致变色材料及器件的研究中占有重要的地位，因为其具有较高的着色效率、较好的可逆性、较长的记忆时间等优异的电致变色性能。因而，锂掺杂WO3电致变色薄膜也受到了颇多的关注和研究。
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其中，为了对Li掺杂三氧化钨薄膜的结构进行分析以及对其性能进行测试，有专家采用光谱椭偏仪（SE）测得薄膜的厚度；用X射线衍射仪（XRD）和场发射扫描电镜（SEM）测定薄膜的微结构；采用XPS测量薄膜样品掺杂量；用紫外/可见光/近红外分光光度仪测量WO3薄膜在原始态、着色态、褪色态的透射光谱。他们以制备的WO3薄膜作为工作电极，PT片为对电极，饱和Ag/AgCL电极作参比电极，1moL/L的LiCLO4/PC溶液为电解质，采用三电极法在电化学工作站上测试薄膜的电化学性能。
